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AFM à pointe conductrice
Configuration AFM : 
A ces techniques optiques vient se greffer une technique de microscopie en champ proche AFM (Atomic Force Microscopy). Pour la mesure, on positionne une pointe microscopique au plus près de la surface à l’aide d’actuateurs piézoélectriques. Le bras AFM est situé sous un objectif de microscope, facilitant le positionnement [figure]. La pointe est fixée au bout d’un cantilever qui lors du balayage sur la surface de l’échantillon va se déformer. Un faisceau laser collimaté au dos de ce cantilever va être dévié suite à la déformation de celui-ci. Cette déviation est analysée sur une photodiode 4 cadrans et va permettre de remonter à la topographie de surface de l’échantillon [figure]. Différents modes de fonctionnement sont disponibles suivant la rugosité et la fragilité de l’échantillon (Mode contact, AC et non-contact).
Gauche : Bras AFM couplé au microscope confocal. Droite : Principe de fonctionnement de l’AFM en mode Contact
Des extensions électriques sont actuellement en cours de développement. L’extension Résiscope [refs] développée au laboratoire est en cours d’adaptation à l’AFM existant. Elle permet d’obtenir en parallèle de la topographie de surface une carte électrique en appliquant une tension en face arrière de l’échantillon et en collectant le courant qui le traverse par la pointe AFM conductrice [figure]. La plage de mesure s’échelonne entre 100 et 1012Ω.
Principe de fonctionnement du résiscope
References:
- J. Ravier et al, Carbon, 39, 314 (2001)
- O. Schneegans et al, J. Am. Chem. Soc, 123, 11486 (2001)
Example illustrant l'intérêt d'un couplage µ-Raman, µ-PL and AFM
- Example of a CIGS absorber layer for photovoltaic applications
Le couplage Raman/AFM à permis de mettre en evidence l’aggrégation du CdS en plots de 300nm
