Caractérisation en champ proche des émissions rayonnées

Avec l’acquisition d’un nouveau banc champ proche, une nouvelle activité sur le diagnostic CEM en émission et en immunité a pu être amorcée. Ce banc est basé sur le principe de mesure directe à travers une sonde sensible au champ électrique ou magnétique qui va recueillir l’information locale du champ (Figure 1). Grâce aux données recueillies, il est possible de faire de l’investigation CEM en détectant les zones à fort champ, d’extraire des modèles permettant par exemple de calculer le champ à différentes distances du produit électronique ou encore d'étudier des couplages entre une perturbation et un circuit imprimé par exemple (Figure 2 et Figure 3).

Figure 1 : Banc champ proche

Figure 2 : Boîtier d’électronique embarquée

Figure 3 : Champ magnétique rayonné par un boîtier d’électronique embarquée

Les premiers travaux en champ proche ont porté sur le développement d’approches pour la modélisation des sources de rayonnement en champ proche basse fréquence. Ces modèles d’émissions rayonnées sont issus d’une identification des sources représentant le dispositif électronique à caractériser comme étant un ensemble de sources élémentaires équivalentes, qui vont rayonner le même champ électromagnétique (Figure 4). Pour la construction du modèle, les équations analytiques de rayonnement d’un dipôle magnétique sont utilisées. Les paramètres inconnus de l’ensemble de dipôles élémentaires équivalent à la source de rayonnement (nombre de dipôle, les positions et les moments magnétiques des dipôles) sont déterminés par la résolution d’un problème inverse. Les techniques d’identification ont récemment été étendues au cas de sources transitoires grâce à l’exploitation du retournement temporel.